Nanoindentación basada en espectroscopia de fuerzas con un microscopio de fuerza atómica
Se presenta la implementación de un método para indentar superficies rígidas a nanoescala utilizando un microscopio de fuerza atómica (Atomic Force Microscopy-AFM). Esta se basa en el modo de espectroscopia de fuerzas (Force Spectroscopy-FS) que usualmente se encuentra disponible en los AFM, la cual...
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| Publicado no: | Ingeniería y Ciencia |
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| Autor principal: | |
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Espanhol |
| Publicado em: |
Universidad EAFIT
2008
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=83540805 |
| Tags: |
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