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Near-field microscopy of evanescent microwaves
Local control of evanescent microwaves is experimentally investigated using a scanning near-field microwave microscope. The capabilitiesof the microscope and the contribution, on the near field images, of propagating field components stemming from inelastic (out-of-plane)scattering were elucidated....
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| Publicado no: | Revista Mexicana de Física |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , |
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2005
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57064013 |
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