Lanean...

Graphite thin film characterization using a simplified resonant near field scanning microwave microscope

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Argitaratua izan da:Revista Mexicana de Física
Egile Nagusiak: G. López-Maldonado, N. Qureshi, O. V. Kolokoltsev, H. Vargas-Hernández, C. L. Ordónez-Romero
Formatua: Artigo
Hizkuntza:Inglês
Argitaratua: Sociedad Mexicana de Física A.C. 2014
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57029680014
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!