Análisis de tensión/tamáno en compuestos ternarios AgIn5 VI8(VI = S, Se, Te) mediante difracción de Rayos-x
En este trabajo estudiamos las propiedades microestructurales de compuestos ternarios AgIn 5 VI 8 (VI= S, Se, Te) mediante la t ́ ecnica de Difracci ́ on de Rayos-X (DRX). El ancho de l ́ ınea del perfil de DRX es medido como funci ́ on del ́ angulo de difracci ́ on. Los par ́ ametros microes...
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| Publicado en: | Revista Mexicana de Física |
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| Principais autores: | , , , |
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Espanhol |
| Publicado: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2017
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| Assuntos: | |
| Acceso en liña: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57050930007 |
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