Análisis de tensión/tamáno en compuestos ternarios AgIn5 VI8(VI = S, Se, Te) mediante difracción de Rayos-x

En este trabajo estudiamos las propiedades microestructurales de compuestos ternarios AgIn 5 VI 8 (VI= S, Se, Te) mediante la t ́ ecnica de Difracci ́ on de Rayos-X (DRX). El ancho de l ́ ınea del perfil de DRX es medido como funci ́ on del ́ angulo de difracci ́ on. Los par ́ ametros microes...

Descrizione completa

Dettagli Bibliografici

Pubblicato in:	Revista Mexicana de Física
Autori principali:	J.R. Fermina, D.Y. Salcedo, C. Durante Rincóna, J.A. Castro
Natura:	Artigo
Lingua:	Espanhol
Pubblicazione:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2017
Soggetti:	Física, Astronomía y Matemáticas
Accesso online:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57050930007
Tags:	Aggiungi Tag Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!