Application of the total internal reflection phenomenon as a gas sensing technique using evaporated SnO2 thin films
Αποθηκεύτηκε σε:
| Εκδόθηκε σε: | Revista Mexicana de Física |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , , , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2004
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57050515 |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|