Características morfológicas de diferentes recubrimientos calculados utilizando técnicas de procesamiento de imágenes

Se capturaron imagenes superficiales de recubrimientos de nitruro de niobio (NbN), nitruro de tantalio (TaN), nitruro de circonio (ZrN) y ´ nitruro de cromo (CrN), empleando la tecnica de microscop ´ ´ıa de barrio por sonda (SPM) en el modo de microscop´ıa de fuerza atomica ´ (AFM). Estas imagenes s...

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Bibliografische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Revista Mexicana de Física
Hauptverfasser:	E. Restrepo-Parra, J.C. Riaño-Rojas, J.J. Olaya-Florez, F.A. Prieto-Ortíz
Format:	Artigo
Sprache:	Espanhol
Veröffentlicht:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2007
Schlagworte:	Física, Astronomía y Matemáticas
Online-Zugang:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57036163047
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