Características morfológicas de diferentes recubrimientos calculados utilizando técnicas de procesamiento de imágenes

Se capturaron imagenes superficiales de recubrimientos de nitruro de niobio (NbN), nitruro de tantalio (TaN), nitruro de circonio (ZrN) y ´ nitruro de cromo (CrN), empleando la tecnica de microscop ´ ´ıa de barrio por sonda (SPM) en el modo de microscop´ıa de fuerza atomica ´ (AFM). Estas imagenes s...

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מידע ביבליוגרפי

הוצא לאור ב:	Revista Mexicana de Física
Principais autores:	E. Restrepo-Parra, J.C. Riaño-Rojas, J.J. Olaya-Florez, F.A. Prieto-Ortíz
פורמט:	Artigo
שפה:	Espanhol
יצא לאור:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2007
נושאים:	Física, Astronomía y Matemáticas
גישה מקוונת:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57036163047
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