Características morfológicas de diferentes recubrimientos calculados utilizando técnicas de procesamiento de imágenes

Se capturaron imagenes superficiales de recubrimientos de nitruro de niobio (NbN), nitruro de tantalio (TaN), nitruro de circonio (ZrN) y ´ nitruro de cromo (CrN), empleando la tecnica de microscop ´ ´ıa de barrio por sonda (SPM) en el modo de microscop´ıa de fuerza atomica ´ (AFM). Estas imagenes s...

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Dades bibliogràfiques

Publicat a:	Revista Mexicana de Física
Autors principals:	E. Restrepo-Parra, J.C. Riaño-Rojas, J.J. Olaya-Florez, F.A. Prieto-Ortíz
Format:	Artigo
Idioma:	Espanhol
Publicat:	Sociedad Mexicana de Física A.C. 2007
Matèries:	Física, Astronomía y Matemáticas
Accés en línia:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57036163047
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