kod QR

Comparative measurement of in plane strain by shearography and electronic speckle pattern interferometry

In this work, an optical setup that gives the possibility of using either ESPI or ESPSI has been implemented to assess in-plane strains induced on a composite sample. First, in-plane ESPI was used to measure displacement fields, which later allowed us to evaluate the corresponding strain fields. Nex...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:Revista Mexicana de Física
Główni autorzy: A. Martínez, J.A. Rayas, R. Cordero, F. Labbe
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: Sociedad Mexicana de Física A.C. 2011
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57021213008
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!