Refractive index of multiline nanosecond laser-induced periodic surface structures and porous silicon
To study the effect of multiline laser processing in the optical response of silicon, a set of p-type single-crystalline silicon wafers with 0.01 to 0.02 m resistivity, 525 ¹m thickness, and [111] orientation, was irradiated with a multiline Nd:YAG pulsed laser (1064, 532 and 355 nm) applying energ...
Збережено в:
| Опубліковано в:: | Revista Mexicana de Física |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Inglês |
| Опубліковано: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2011
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57021213002 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|