Φορτώνει......
Scaling Laws in PZT Thin Films Grown on Si(001) and Nb-Doped SrTiO3(001) Substrates
A dynamic scaling and kinetic roughening study was done on digitized atomic force microscope (AFM) imagesof Pb(Zr0:52;Ti0:48)O3 (PZT) thin films. The films were grown on Si(001) and Nb¡SrTiO3(001) (STNO)substrates via rf-sputtering technique at high oxygen pressures at substrate temperatures of 600...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Τόπος έκδοσης: | Brazilian Journal of Physics |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
Sociedade Brasileira de Física
2006
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=46436571 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|