Lataa...

Local stiffness and work function variations of hexagonal boron nitride on Cu(111)

Combined scanning tunnelling and atomic force microscopy using a qPlus sensor enables the measurement of electronic and mechanic properties of two-dimensional materials at the nanoscale. In this work, we study hexagonal boron nitride (h-BN), an atomically thin 2D layer, that is van der Waals-coupled...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Julkaisussa:Beilstein J Nanotechnol
Päätekijät: Grewal, Abhishek, Wang, Yuqi, Münks, Matthias, Kern, Klaus, Ternes, Markus
Aineistotyyppi: Artigo
Kieli:Inglês
Julkaistu: Beilstein-Institut 2021
Aiheet:
Linkit:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8218540/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34221802
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.12.46
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!