Загрузка...
Local stiffness and work function variations of hexagonal boron nitride on Cu(111)
Combined scanning tunnelling and atomic force microscopy using a qPlus sensor enables the measurement of electronic and mechanic properties of two-dimensional materials at the nanoscale. In this work, we study hexagonal boron nitride (h-BN), an atomically thin 2D layer, that is van der Waals-coupled...
Сохранить в:
| Опубликовано в: : | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Главные авторы: | , , , , |
| Формат: | Artigo |
| Язык: | Inglês |
| Опубликовано: |
Beilstein-Institut
2021
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8218540/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34221802 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.12.46 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|