Surface and build‐up dose comparison between Elekta 6 MV flattening filter and flattening‐filter‐free beams using an advanced Markus ionization chamber and a solid water‐equivalent phantom

Using a plane‐parallel advanced Markus ionization chamber and a stack of water‐equivalent solid phantom blocks, percentage surface and build‐up doses of Elekta 6 MV flattening filter (FF) and flattening‐filter‐free (FFF) beams were measured as a function of the phantom depth for field sizes ranging...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:J Appl Clin Med Phys
Główni autorzy: Imae, Toshikazu, Takenaka, Shigeharu, Watanabe, Yuichi, Aoki, Atsushi, Matsuda, Kanako, Sasaki, Katsutake, Saegusa, Shigeki, Nawa, Kanabu, Nakagawa, Keiichi, Abe, Osamu
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: John Wiley and Sons Inc. 2020
Hasła przedmiotowe:
Technical Notes
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7769389/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33184970
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1002/acm2.13094
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy