Đang tải...
X-Ray Single-Grating Interferometry for Wavefront Measurement and Correction of Hard X-Ray Nanofocusing Mirrors
X-ray single-grating interferometry was applied to conduct accurate wavefront corrections for hard X-ray nanofocusing mirrors. Systematic errors in the interferometer, originating from a grating, a detector, and alignment errors of the components, were carefully examined. Based on the measured wavef...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Sensors (Basel) |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI
2020
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7767480/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33371522 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s20247356 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|