טוען...
Solid-State Dewetting Dynamics of Amorphous Ge Thin Films on Silicon Dioxide Substrates
We report on the dewetting process, in a high vacuum environment, of amorphous Ge thin films on SiO(2)/Si (001). A detailed insight of the dewetting is obtained by in situ reflection high-energy electron diffraction and ex situ scanning electron microscopy. These characterizations show that the amor...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Nanomaterials (Basel) |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , , , , , , , |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
MDPI
2020
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7766082/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33348747 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/nano10122542 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|