Solid-State Dewetting Dynamics of Amorphous Ge Thin Films on Silicon Dioxide Substrates

We report on the dewetting process, in a high vacuum environment, of amorphous Ge thin films on SiO(2)/Si (001). A detailed insight of the dewetting is obtained by in situ reflection high-energy electron diffraction and ex situ scanning electron microscopy. These characterizations show that the amor...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Nanomaterials (Basel)
Main Authors: Toliopoulos, Dimosthenis, Fedorov, Alexey, Bietti, Sergio, Bollani, Monica, Bonera, Emiliano, Ballabio, Andrea, Isella, Giovanni, Bouabdellaoui, Mohammed, Abbarchi, Marco, Tsukamoto, Shiro, Sanguinetti, Stefano
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: MDPI 2020
נושאים:
Article
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7766082/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33348747
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/nano10122542
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים