טוען...

Closed-loop atomic force microscopy-infrared spectroscopic imaging for nanoscale molecular characterization

Atomic force microscopy-infrared (AFM-IR) spectroscopic imaging offers non-perturbative, molecular contrast for nanoscale characterization. The need to mitigate measurement artifacts and enhance sensitivity, however, requires narrowly-defined and strict sample preparation protocols. This limits reli...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Nat Commun
Main Authors: Kenkel, Seth, Mittal, Shachi, Bhargava, Rohit
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Nature Publishing Group UK 2020
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7320136/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32591515
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41467-020-17043-5
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!