Ładuje się......

Closed-loop atomic force microscopy-infrared spectroscopic imaging for nanoscale molecular characterization

Atomic force microscopy-infrared (AFM-IR) spectroscopic imaging offers non-perturbative, molecular contrast for nanoscale characterization. The need to mitigate measurement artifacts and enhance sensitivity, however, requires narrowly-defined and strict sample preparation protocols. This limits reli...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:Nat Commun
Główni autorzy: Kenkel, Seth, Mittal, Shachi, Bhargava, Rohit
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: Nature Publishing Group UK 2020
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7320136/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32591515
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41467-020-17043-5
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!