Φορτώνει......

In-Line Holography in Transmission Electron Microscopy for the Atomic Resolution Imaging of Single Particle of Radiation-Sensitive Matter

In this paper, for the first time it is shown how in-line holography in Transmission Electron Microscopy (TEM) enables the study of radiation-sensitive nanoparticles of organic and inorganic materials providing high-contrast holograms of single nanoparticles, while illuminating specimens with a dens...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:Materials (Basel)
Κύριος συγγραφέας: Carlino, Elvio
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: MDPI 2020
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7142924/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32245011
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/ma13061413
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!