Đang tải...
The Application of Chemical Polishing in TEM Sample Preparation of Zirconium Alloys
Hydride artefacts are commonly induced by the TEM sample preparation process in Zirconium alloys as hydrogen-sensitive metals, including electron polishing and focused ion beam (FIB) technology. In the research, we present the application of chemical polishing with a solution of 10HF:45HNO(3):45H(2)...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Materials (Basel) |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI
2020
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7084560/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32106508 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/ma13051036 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|