تحميل...
Effects of growth technique on the microstructure of CuInSe(2) ternary semiconductor compound
X-ray diffraction (XRD) and Energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometer (EDXRF) are employed to investigate the microstructure of bulk [Formula: see text] specimens grown through the Bridgman technique and traveling heater process, respectively. We investigate the lattice parameters, grain siz...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Heliyon |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Elsevier
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6974771/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31993518 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.heliyon.2020.e03196 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|