تحميل...

Resolution enhancement in scanning electron microscopy using deep learning

We report resolution enhancement in scanning electron microscopy (SEM) images using a generative adversarial network. We demonstrate the veracity of this deep learning-based super-resolution technique by inferring unresolved features in low-resolution SEM images and comparing them with the accuratel...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
الحاوية / القاعدة:Sci Rep
المؤلفون الرئيسيون: de Haan, Kevin, Ballard, Zachary S., Rivenson, Yair, Wu, Yichen, Ozcan, Aydogan
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Nature Publishing Group UK 2019
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6700066/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31427691
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-019-48444-2
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!