Wavefront sensing at X-ray free-electron lasers

Here a direct comparison is made between various X-ray wavefront sensing methods with application to optics alignment and focus characterization at X-ray free-electron lasers (XFELs). Focus optimization at XFEL beamlines presents unique challenges due to high peak powers as well as beam pointing ins...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:J Synchrotron Radiat
Główni autorzy: Seaberg, Matthew, Cojocaru, Ruxandra, Berujon, Sebastien, Ziegler, Eric, Jaggi, Andreas, Krempasky, Juraj, Seiboth, Frank, Aquila, Andrew, Liu, Yanwei, Sakdinawat, Anne, Lee, Hae Ja, Flechsig, Uwe, Patthey, Luc, Koch, Frieder, Seniutinas, Gediminas, David, Christian, Zhu, Diling, Mikeš, Ladislav, Makita, Mikako, Koyama, Takahisa, Mancuso, Adrian P., Chapman, Henry N., Vagovič, Patrik
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: International Union of Crystallography 2019
Hasła przedmiotowe:
Research Papers
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6613120/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31274435
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577519005721
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy