Ładuje się......
Thickness-Dependent Perovskite Octahedral Distortions at Heterointerfaces
[Image: see text] In this study, we analyze how the octahedral tilts and rotations of thin films of LaNiO(3) and LaAlO(3) grown on different substrates, determined using synchrotron X-ray diffraction-measured half-integer Bragg peaks, depend upon the total film thickness. We find a striking differen...
Zapisane w:
| Wydane w: | Nano Lett |
|---|---|
| Główni autorzy: | , , , , , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
American Chemical Society
2019
|
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6595436/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31117765 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.9b01772 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|