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High spectral resolution second harmonic generation microspectroscopy at thin layer interfaces with broadband continuum pulses

We demonstrate an effective microspectroscopy technique by tracing the dispersion of second order nonlinear optical susceptibility χ((2)) in single atomic layer materials. The experimental method relies on the detection of single-shot second harmonic (SH) spectra from the materials and the subsequen...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:MethodsX
Main Authors: Mokim, M., Card, A., Ganikhanov, F.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Elsevier 2019
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6500909/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/31080755
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.mex.2019.04.015
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