লোডিং...
Microscopic charge fluctuations cause minimal contrast loss in cryoEM
The fluctuating granularity or “bee swarm” effect seen in highly defocussed transmission electron micrographs is caused by microscopic charge fluctuations in the specimen created by the illuminating beam. In the field of high-resolution single particle electron cryomicroscopy (cryoEM), there has bee...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Ultramicroscopy |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Elsevier
2018
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5862660/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29413413 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2018.01.011 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|