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High-Temperature Raman Spectroscopy of Nano-Crystalline Carbon in Silicon Oxycarbide

The microstructure of segregated carbon in silicon oxycarbide (SiOC), hot-pressed at T = 1600 °C and p = 50 MPa, has been investigated by VIS Raman spectroscopy (λ = 514 nm) within the temperature range 25–1000 °C in air. The occurrence of the G, D’ and D bands at 1590, 1620 and 1350 cm(−1), togethe...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Materials (Basel)
Main Authors: Rosenburg, Felix, Ionescu, Emanuel, Nicoloso, Norbert, Riedel, Ralf
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: MDPI 2018
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5793591/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29315211
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/ma11010093
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