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Reduced resistance drift in tunnel junctions using confined tunnel barriers

Metal-insulator-metal (MIM) tunnel junctions with the aluminum oxide tunnel barriers confined between cobalt electrodes exhibit less resistance drift over time than junctions that utilize a thick, unconfined aluminum electrode. The improved long time stability is attributed to better initial oxide q...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:J Appl Phys
Main Authors: Barcikowski, Z. S., Pomeroy, J. M.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: 2017
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5783202/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29375156
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.4996497
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