Φορτώνει......

Electric field imaging of single atoms

In scanning transmission electron microscopy (STEM), single atoms can be imaged by detecting electrons scattered through high angles using post-specimen, annular-type detectors. Recently, it has been shown that the atomic-scale electric field of both the positive atomic nuclei and the surrounding ne...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:Nat Commun
Κύριοι συγγραφείς: Shibata, Naoya, Seki, Takehito, Sánchez-Santolino, Gabriel, Findlay, Scott D., Kohno, Yuji, Matsumoto, Takao, Ishikawa, Ryo, Ikuhara, Yuichi
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Nature Publishing Group 2017
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5459997/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28555629
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/ncomms15631
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!