Φορτώνει......
Spectroscopy of Deep Traps in Cu(2)S-CdS Junction Structures
Cu(2)S-CdS junctions of the polycrystalline material layers have been examined by combining the capacitance deep level transient spectroscopy technique together with white LED light additional illumination (C-DLTS-WL) and the photo-ionization spectroscopy (PIS) implemented by the photocurrent probin...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Τόπος έκδοσης: | Materials (Basel) |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
MDPI
2012
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5449076/ https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/ma5122597 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|