טוען...

A fast image simulation algorithm for scanning transmission electron microscopy

Image simulation for scanning transmission electron microscopy at atomic resolution for samples with realistic dimensions can require very large computation times using existing simulation algorithms. We present a new algorithm named PRISM that combines features of the two most commonly used algorit...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Adv Struct Chem Imaging
מחבר ראשי: Ophus, Colin
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Springer International Publishing 2017
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5423922/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28546904
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s40679-017-0046-1
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!