Dynamic crystal rotation resolved by high-speed synchrotron X-ray Laue diffraction

Dynamic compression experiments are performed on single-crystal Si under split Hopkinson pressure bar loading, together with simultaneous high-speed (250–350 ns resolution) synchrotron X-ray Laue diffraction and phase-contrast imaging. A methodology is presented which determines crystal rotation par...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:J Synchrotron Radiat
Những tác giả chính: Huang, J. W., E, J. C., Huang, J. Y., Sun, T., Fezzaa, K., Luo, S. N.
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: International Union of Crystallography 2016
Những chủ đề:
Research Papers
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5315007/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27140150
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S160057751600223X
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự