Gap junctions formed by connexins 26 and 32 alone and in combination are differently affected by applied voltage.

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Barrio, L C, Suchyna, T, Bargiello, T, Xu, L X, Roginski, R S, Bennett, M V, Nicholson, B J
Formato: Artigo
Lenguaje:Inglês
Publicado: 1992
Materias:
Correction
Acceso en línea:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC525667/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/1315057
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