Đang tải...
Analysis at the Atomic Level: The Atom Probe Field-Ion Microscope
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | J Res Natl Bur Stand (1977) |
|---|---|
| Tác giả chính: | |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology
1988
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5181926/ https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.6028/jres.093.083 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|