טוען...
Analysis at the Atomic Level: The Atom Probe Field-Ion Microscope
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | J Res Natl Bur Stand (1977) |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology
1988
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5181926/ https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.6028/jres.093.083 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|