Načítá se...
Analysis at the Atomic Level: The Atom Probe Field-Ion Microscope
Uloženo v:
| Vydáno v: | J Res Natl Bur Stand (1977) |
|---|---|
| Hlavní autor: | |
| Médium: | Artigo |
| Jazyk: | Inglês |
| Vydáno: |
[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology
1988
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5181926/ https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.6028/jres.093.083 |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|