লোডিং...
Ordered Peierls distortion prevented at growth onset of GeTe ultra-thin films
Using reflection high-energy electron diffraction (RHEED), the growth onset of molecular beam epitaxy (MBE) deposited germanium telluride (GeTe) film on Si(111)-(√3 × √3)R30°-Sb surfaces is investigated, and a larger than expected in-plane lattice spacing is observed during the deposition of the fir...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Sci Rep |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Nature Publishing Group
2016
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5017194/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27612303 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep32895 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|