Ładuje się......
Robustness to Faults Promotes Evolvability: Insights from Evolving Digital Circuits
We demonstrate how the need to cope with operational faults enables evolving circuits to find more fit solutions. The analysis of the results obtained in different experimental conditions indicates that, in absence of faults, evolution tends to select circuits that are small and have low phenotypic...
Zapisane w:
| Wydane w: | PLoS One |
|---|---|
| Główni autorzy: | , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
Public Library of Science
2016
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4943595/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27409589 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0158627 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|