Загрузка...
Conference Report: SECOND WORKSHOP ON INDUSTRIAL APPLICATIONS OF SCANNED PROBE MICROSCOPY Gaithersburg, MD May 2–3, 1995
Сохранить в:
| Опубликовано в: : | J Res Natl Inst Stand Technol |
|---|---|
| Главные авторы: | , , , |
| Формат: | Artigo |
| Язык: | Inglês |
| Опубликовано: |
[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology
1996
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4907606/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27805094 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.6028/jres.101.009 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|