Ładuje się......
Electron Diffraction Using Transmission Electron Microscopy
Electron diffraction via the transmission electron microscope is a powerful method for characterizing the structure of materials, including perfect crystals and defect structures. The advantages of electron diffraction over other methods, e.g., x-ray or neutron, arise from the extremely short wavele...
Zapisane w:
| Wydane w: | J Res Natl Inst Stand Technol |
|---|---|
| Główni autorzy: | , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
[Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology
2001
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4865294/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27500060 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.6028/jres.106.051 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|