লোডিং...
Optimizing detector geometry for trace element mapping by X-ray fluorescence
Trace metals play critical roles in a variety of systems, ranging from cells to photovoltaics. X-Ray Fluorescence (XRF) microscopy using X-ray excitation provides one of the highest sensitivities available for imaging the distribution of trace metals at sub-100 nm resolution. With the growing availa...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Ultramicroscopy |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
2015
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4793152/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25600825 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2014.12.014 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|