Đang tải...
Particle alignment reliability in single particle electron cryomicroscopy: a general approach
Electron Microscopy is reaching new capabilities thanks to the combined effect of new technologies and new image processing methods. However, the reconstruction process is still complex, requiring many steps and elaborated optimization procedures. Therefore, the possibility to reach a wrong structur...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Sci Rep |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Nature Publishing Group
2016
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4761946/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26899789 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep21626 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|