Đang tải...

Particle alignment reliability in single particle electron cryomicroscopy: a general approach

Electron Microscopy is reaching new capabilities thanks to the combined effect of new technologies and new image processing methods. However, the reconstruction process is still complex, requiring many steps and elaborated optimization procedures. Therefore, the possibility to reach a wrong structur...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:Sci Rep
Những tác giả chính: Vargas, J., Otón, J., Marabini, R., Carazo, J. M., Sorzano, C. O. S.
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: Nature Publishing Group 2016
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4761946/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26899789
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep21626
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!