Ładuje się......

Particle alignment reliability in single particle electron cryomicroscopy: a general approach

Electron Microscopy is reaching new capabilities thanks to the combined effect of new technologies and new image processing methods. However, the reconstruction process is still complex, requiring many steps and elaborated optimization procedures. Therefore, the possibility to reach a wrong structur...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:Sci Rep
Główni autorzy: Vargas, J., Otón, J., Marabini, R., Carazo, J. M., Sorzano, C. O. S.
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: Nature Publishing Group 2016
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4761946/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26899789
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep21626
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!