טוען...

Simultaneous resonant x-ray diffraction measurement of polarization inversion and lattice strain in polycrystalline ferroelectrics

Structure-property relationships in ferroelectrics extend over several length scales from the individual unit cell to the macroscopic device, and with dynamics spanning a broad temporal domain. Characterizing the multi-scale structural origin of electric field-induced polarization reversal and strai...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Sci Rep
Main Authors: Gorfman, S., Simons, H., Iamsasri, T., Prasertpalichat, S., Cann, D. P., Choe, H., Pietsch, U., Watier, Y., Jones, J. L.
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Nature Publishing Group 2016
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4750001/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26864859
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep20829
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!