Erratum to: Optical properties and bandgap evolution of ALD HfSiO(x)films

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Pubblicato in:Nanoscale Res Lett
Autori principali: Yang, Wen, Fronk, Michael, Geng, Yang, Chen, Lin, Sun, Qing-Qing, Gordan, Ovidiu D., Zhou, Peng, Zahn, Dietrich R. T., Zhang, David Wei
Natura: Artigo
Lingua:Inglês
Pubblicazione: Springer US 2015
Soggetti:
Erratum
Accesso online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4724996/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26428013
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s11671-015-1079-9
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