טוען...

Structured illumination diffraction phase microscopy for broadband, sub-diffraction resolution, quantitative phase imaging

Structured illumination microscopy (SIM) is an established technique that allows sub-diffraction resolution imaging by heterodyning high sample frequencies into the system’s passband via structured illumination. However, until now, SIM has been typically used to achieve sub-diffraction resolution fo...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Opt Lett
Main Authors: Chowdhury, Shwetadwip, Izatt, Joseph A.
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: 2014
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4704703/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24562266
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!