تحميل...
Development of a novel nanoindentation technique by utilizing a dual-probe AFM system
A novel instrumentation approach to nanoindentation is described that exhibits improved resolution and depth sensing. The approach is based on a multi-probe scanning probe microscopy (SPM) tool that utilizes tuning-fork based probes for both indentation and depth sensing. Unlike nanoindentation expe...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Beilstein-Institut
2015
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4660937/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26665072 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.205 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|