טוען...

Grain boundary resistance to amorphization of nanocrystalline silicon carbide

Under the C displacement condition, we have used molecular dynamics simulation to examine the effects of grain boundaries (GBs) on the amorphization of nanocrystalline silicon carbide (nc-SiC) by point defect accumulation. The results show that the interstitials are preferentially absorbed and accum...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:Sci Rep
Main Authors: Chen, Dong, Gao, Fei, Liu, Bo
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: Nature Publishing Group 2015
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4642319/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26558694
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep16602
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!