Ładuje się......

Design and performance of the APPLE-Knot undulator

Along with the development of accelerator technology, synchrotron emittance has continuously decreased. This results in increased brightness, but also causes a heavy heat load on beamline optics. Recently, optical surfaces with 0.1 nm micro-roughness and 0.05 µrad slope error (r.m.s.) have become co...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:J Synchrotron Radiat
Główni autorzy: Ji, Fuhao, Chang, Rui, Zhou, Qiaogen, Zhang, Wei, Ye, Mao, Sasaki, Shigemi, Qiao, Shan
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: International Union of Crystallography 2015
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4489533/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26134793
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577515006062
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!