লোডিং...
Elimination of strength degrading effects caused by surface microdefect: A prevention achieved by silicon nanotexturing to avoid catastrophic brittle fracture
The unavoidable occurrence of microdefects in silicon wafers increase the probability of catastrophic fracture of silicon-based devices, thus highlighting the need for a strengthening mechanism to minimize fractures resulting from defects. In this study, a novel mechanism for manufacturing silicon w...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Sci Rep |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Nature Publishing Group
2015
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4455193/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26040924 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep10869 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|