Đang tải...
Determining Chemically and Spatially Resolved Atomic Profile of Low Contrast Interface Structure with High Resolution
We present precise measurements of atomic distributions of low electron density contrast at a buried interface using soft x-ray resonant scattering. This approach allows one to construct chemically and spatially highly resolved atomic distribution profile upto several tens of nanometer in a non-dest...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Sci Rep |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Nature Publishing Group
2015
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4345341/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25726866 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep08618 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|