Đang tải...
Investigation on Blind Tip Reconstruction Errors Caused by Sample Features
Precision measurements of a nanoscale sample surface using an atomic force microscope (AFM) require a precise quantitative knowledge of the 3D tip shape. Blind tip reconstruction (BTR), established by Villarrubia, gives an outer bound with larger errors if the tip characterizer is not appropriate. I...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | Sensors (Basel) |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI
2014
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4299057/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25490584 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3390/s141223159 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|