טוען...

Mapping the continuous reciprocal space intensity distribution of X-ray serial crystallography

Serial crystallography using X-ray free-electron lasers enables the collection of tens of thousands of measurements from an equal number of individual crystals, each of which can be smaller than 1 µm in size. This manuscript describes an alternative way of handling diffraction data recorded by seria...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Yefanov, Oleksandr, Gati, Cornelius, Bourenkov, Gleb, Kirian, Richard A., White, Thomas A., Spence, John C. H., Chapman, Henry N., Barty, Anton
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: The Royal Society 2014
נושאים:
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4052869/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24914160
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1098/rstb.2013.0333
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!